レーザースキャナー SIRISシリーズの検査装置イメージ図（ケン・オートメーション）

レーザースキャナー SIRISシリーズ　検査装置イメージ図

検査装置は、現在稼働中の生産ラインに組み込めるような設計が可能です。相談により、左図の様に材料へのレーザー照射部と、検出・分類したい欠陥種類に応じて複数の検出器を設置します。一度のテレセントリック・スキャンにて同時に複数の欠陥に応じた出力を受光する事により、それぞれの検出器又は、複数の検出器が得た情報の複合処理等により、欠陥を分類・分別します。これにより、従来計測できなかった材料や誤差を解消できる事は勿論ですが、同一欠陥であっても異なる判定をしたい場合等、（A社向け・B社向け等）状況に応じて分類する事が可能です。又、欠陥部のマーキング等外部信号出力も可能です。

赤外線カメラと赤外線サーモグラフィのケン・オートメーション