展示会情報　株式会社ケン・オートメーション（超音波非破壊検査装置）

Car Testing Japan 2008 (冬）

2008/12/09: 期日：２００８年１２月０９日（火）－１１日(木）
会場：TFTホール/東京有明
展示内容：
１．Cedip 赤外線応力測定システム、赤外線サーモグラフィ
２．e/de/vis UTvis,OTvis.PTvis非破壊検査装置
３．ibg 渦流検査機（eddyシリーズ）
４．XSENSOR 圧力分布計測装置
５. KOBA社接触・非接触光学測定三次元測定機用　
　　　　　　　　　　　　　　　　　校正ツール

光先端テクノロジー展

2008/12/03: 期日：２００８年１２月０３日（水）ー０５日（金）
会場：パシフィコ横浜
展示内容：
１．CEDIP赤外線応力測定システム、
　　CEDIP赤外線カメラ、赤外線サーモグラフィ
２．e/de/vis UTvis,OTvis,PTvis非破壊検査装置
３．Jenoptikテレセントリックレーザー方式欠陥検査装置

航空宇宙産業技術展

2008/11/27: 期日：２００８年１１月２７日（木）ー２９日（土）
会場：ポートメッセ名古屋
展示内容：
１．Ultran非接触空中伝播超音波検査システム
２．e/de/vis UTvis, OTvis, PTvis非破壊検査装置
３．CEDIP　赤外線応力測定装置、赤外線サーモグラフィ

画像センシング展

2008/06/11: 期日：２００８年６月１１日（水）－１３日（金）
会場：パシフィコ横浜　
　　　フリアシステムズジャパン（株）展示ブース内
展示内容：
高性能冷却型赤外線カメラTitanium５６０Mを展示紹介

人とくるまのテクノロジー展

2008/05/21: 期日：２００８年５月２１日（水）ー２３日（金）
会場：パシフィコ横浜　ブース番号６９
展示内容：
１．Cedip 赤外線応力測定システム
２．e/de/vis UTvis,OTvis.PTvis非破壊検査装置
３．ibg 渦流検査機（eddyシリーズ）
４．XSENSOR 圧力分布計測装置

ファインテック・ジャパン

2008/04/16: 期日：２００８年４月１６日（水）－１８日（金）
会場：東京ビッグサイト東４ホール　ブース番号２６－１
展示内容：
テレセントリック・レーザー方式欠陥検査装置
　　フィルム、ガラス等の表面欠陥を高速にて検出
　　テレセントリック・レーザー方式により光源ムラを解消

Car Testing Japan 2008

2008/03/11: 期日：２００８年３月１１日（火）－１２日(水）
会場：TFTホール/東京有明 (Ｈａｌｌ１０００　ブース番号２０）

展示内容：
１．Cedip 赤外線応力測定システム
２．e/de/vis UTvis,OTvis.PTvis非破壊検査装置
３．ibg 渦流検査機（eddyシリーズ）
４．XSENSOR 圧力分布計測装置
５. KOBA社接触・非接触光学測定三次元測定機用　
　　　　　　　　　　　　　　　　　校正ツール　　
コンファレンスに於ける講演
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日時　　：３月１１日　１５：００－１５：５０
講演会場：Ｈaｌl３００　（Ｓ－２）

ケン・オートメーション営業技術部部長矢尾板　達也

高速赤外線カメラと赤外線応力測定の事例
自動車産業における温度測定事例

赤外線カメラの高速・高精度化に伴い、瞬時に変化する微細な温度変化が撮影できるようになっている。ここでは、高速赤外線カメラを使用した走行時のタイヤ、ブレーキディスク、エアーバック等の測定事例を紹介する。疲労耐久試験における赤外線応力画像測定によるの測定事例を紹介し、新たに開発したランダム位置補正ソフトウエアの開発に関しても述べる。

Convertech Japan 2008

2008/02/13: 期日：２００８年２月１３日（水）－１５日(金）
会場：東京ビッグサイト東３ホール　ブース番号I-３７
展示内容：
１．テレセントリック・レーザー方式欠陥検査装置
　　フィルム、ガラス等の表面欠陥を高速にて検出
　　テレセントリック・レーザー方式により光源ムラを解消
２．UTvis/OTvis/PTvis　非破壊検査装置
　　超音波、光、パルス励起と赤外線カメラの組み合わせにて内部欠陥を検査

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